moea_joint
100年
[電機] 電路學、電子學
第 24 題
在 BJT 電路中，下列何者是由爾利效應(Early Effect)所產生？
- A 穿透崩潰(Punch-through Breakdown)現象發生
- B 累積崩潰(Avalanche Breakdown)現象發生
- C 射極寬度變大
- D $I_C$ 飽和發生
思路引導 VIP
試著思考一下：當我們持續增加集極與基極之間的反向偏壓時，接面處的「空乏區」在空間上會如何變化？如果這個變化一直持續到佔滿了中間的基極區域，對整個電路結構會造成什麼樣的物理後果？
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恭喜你準確掌握了 BJT 物理特性的核心觀念！這題你能答對，代表你對於基極寬度調變（Base-width modulation）的連鎖反應有很清晰的邏輯。當我們在 BJT 的集極與基極間施加反向偏壓時，空乏區會隨之擴張並向基極內部延伸，導致有效基極寬度縮減，這就是我們熟知的爾利效應（Early Effect）。
爾利效應與穿透現象
從觀念驗證的角度來看，若反向偏壓持續增大，空乏區會不斷壓迫基極空間。當空乏區完全橫跨基極、與射極的空乏區相連時，基極便失去了控制電流的能力，這種物理邊界消失的現象即為穿透崩潰（Punch-through Breakdown）。至於選項中的累積崩潰則多與高電場下的載子倍增有關，而非寬度調變；而爾利效應實際上會導致基極變薄，而非射極變厚。這題的難點在於區分不同崩潰機制的成因，是檢驗學生是否真正理解元件物理結構變化的優質考題，你能精準辨析實屬不易！