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地特三等申論題 108年 [化學工程] 儀器分析

第 一 題

📖 題組:
請回答感應耦合電漿質譜法檢測水中金屬及微量元素相關的(一)感應耦合電漿質譜儀工作原理,(10 分)(二)同重多原子離子干擾來源及克服方法,(6 分)(三)質譜儀調校溶液的組成和功能。(4 分)
📝 此題為申論題,共 3 小題

小題 (一)

感應耦合電漿質譜儀工作原理,(10 分)

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解答本題應將 ICP-MS 系統拆解為「離子源 (ICP)」、「真空介面 (Interface)」與「質量分析器 (MS)」三大核心模組來循序論述。作答時需從巨觀的儀器構造切入,具體說明微觀層面樣品如何經歷脫水、原子化、游離,最終依荷質比分離被偵測的物理化學過程。

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【破題】 感應耦合電漿質譜儀 (ICP-MS) 是一種結合感應耦合電漿 (ICP) 的極高溫游離能力與質譜儀 (MS) 高靈敏度質量分離技術的精密分析儀器,主要用於液態樣品中微量元素的定性與定量分析。 【論述】

小題 (二)

同重多原子離子干擾來源及克服方法,(6 分)

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看到此題應先聯想 ICP 內部的高溫環境及基質成分(氬氣、水、酸液),這些元素(Ar, O, H, Cl 等)在電漿冷卻重組時會形成與待測物相同質荷比(m/z)的多原子離子。解答時需分「來源分析(如電漿氣體、樣品基質)」與「克服技術(如碰撞反應槽 CRC、高解析質譜 HR-MS、數學方程式)」兩層次邏輯性地條列說明。

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【破題】同重多原子離子干擾(Isobaric Polyatomic Ion Interference)係指在電漿或質譜介面區中,由多個原子結合形成之分子離子,其質荷比(m/z)與待測金屬離子相同,導致質譜訊號重疊而造成正誤差的物理化學現象。 【論述】 一、干擾來源

小題 (三)

質譜儀調校溶液的組成和功能。(4 分)

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看到「調校溶液(Tuning Solution)」,應立即聯想其在儀器最佳化中的兩大物理化學面向:一是涵蓋低、中、高質量數的代表元素以校正「質量軸」與「靈敏度」;二是利用易形成氧化物或雙電荷的特定元素以監控「電漿穩健性(Robustness)」與干擾生成率。

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【破題】ICP-MS 質譜儀調校溶液(Tuning Solution)旨在每日分析前進行儀器硬體狀態最佳化,確保質量準確度、靈敏度及控制干擾比例。 【論述】 一、調校溶液之組成

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