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普考申論題 110年 [環境檢驗] 儀器分析概要

第 三 題

📖 題組:
小銘與大雄分別使用分子質譜儀對同一分析物進行分析,卻得到了不同的質譜圖,相互討論的結果,發現他們選擇了不同的離子源(ion source)。
📝 此題為申論題,共 3 小題

小題 (三)

請說明小銘與大雄所得到的質譜圖,其基峰(base peak)的質荷比(mass-to-charge ratio, m/z)不同,原因為何?(5 分)

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基峰是質譜圖中強度最強(100%)的峰。不同的離子源能量不同,會導致分子最容易發生斷裂的位置或離子化產物不同。如果是軟離子化,基峰可能是分子離子;如果是硬離子化,基峰通常是某個最穩定的碎片離子。

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【考點分析】 基峰(Base Peak)的定義與影響因素。 【理論/法規依據】

小題 (一)

請由離子源能量的觀點,說明不同能量的離子源如何產生不同的質譜圖。(10 分)

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質譜圖的樣子(碎裂程度)取決於離子化時給予分子的能量。這涉及「硬離子化」與「軟離子化」的對比。高能量導致斷鍵多,低能量則保留分子離子。

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【考點分析】 質譜離子源的分類(Hard vs. Soft Ionization)及其對分子碎裂的影響。 【理論/法規依據】

小題 (二)

請說明氣相層析串聯質譜儀的工作原理。(10 分)

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串聯質譜(MS/MS)通常是為了提高選擇性與靈敏度。核心概念是:第一級選取(Precursor ion)、第二級碰撞碎裂(Collision-induced dissociation, CID)、第三級分析(Product ions)。

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【考點分析】 GC-MS/MS(串聯質譜)的結構與運作機制(多重反應監測 MRM)。 【理論/法規依據】

📝 離子源與基峰關係
💡 離子源能量決定分子碎裂程度,進而影響最強訊號(基峰)的位置。
比較維度 硬離子化 (EI) VS 軟離子化 (CI/ESI)
游離能量 高能量 (約 70 eV) 低能量
碎裂程度 劇烈,產生大量碎片 輕微,保留分子主體
基峰特徵 通常為最穩定碎片離子 通常為分子或準分子離子
💬離子源能量直接影響分子的化學穩定性與主要產物種類,導致基峰不同。
🧠 記憶技巧:硬碎軟留,最強為基;能量高低,決定位置。
⚠️ 常見陷阱:容易誤以為「基峰」必然等於「分子離子峰」,忽略不同能量下的碎裂模式差異。
分子離子峰 (Molecular Ion Peak) 電子撞擊游離法 (EI) 化學游離法 (CI)

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