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高考申論題 110年 [環境檢驗] 儀器分析

第 二 題

📖 題組:
X 光電子能譜儀為表面分析的有效工具,可以偵測樣品表面奈米等級厚度內的訊號,請說明:(每小題 10 分,共 20 分)
📝 此題為申論題,共 2 小題

小題 (二)

對鐵元素來說,中性鐵原子以及二價鐵離子(Fe2+)在 X 光電子能譜儀分析圖譜中,其 Fe2p光電子訊號具有不同束縛能的原因。

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本題考查 XPS 的「化學位移」(Chemical Shift)。考生應說明氧化態如何改變原子的電子雲環境,進而影響核心電子感受到的有效核電荷。

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【考點分析】 氧化態對 X 光電子束縛能(Binding Energy, BE)的影響。 【理論/法規依據】

小題 (一)

此一儀器的表面取樣深度達於奈米尺度的原理。

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本題考查 XPS 的表面敏感性(Surface Sensitivity)。關鍵在於光電子在固體中的「平均自由徑」(Mean Free Path)。雖然 X 光穿透深度很深,但產生的「電子」卻跑不出來。

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【考點分析】 XPS 的表面敏感性原理與電子的非彈性平均自由徑(IMFP)。 【理論/法規依據】

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