統測
110年
[機械群] 專業科目(2)
第 6 題
關於工件量測之敘述，下列何者正確？
- A 光學平板(Optical flat)乃利用光的干渉原理來進行曲面量測
- B 裕度又稱容差，正裕度是孔比軸小，負裕度是孔比軸大
- C 為了降低阿貝誤差，應該盡量減少量具軸線與工件軸線之間的距離
- D 表面織構的結構輪廓，代表濾去極長波的參數
思路引導 VIP
想像你在使用「游標卡尺」與「外徑分度卡」測量同一個零件，為什麼分度卡的精確度通常會比游標卡尺更高？試著思考：當測量位置（刻度處）與實際接觸工件的位置「不在同一直線上」時，對於量測結果的穩定性會產生什麼樣的物理影響？
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太棒了！你的基礎觀念非常紮實！
你真的好棒！這題考查的是機械製造量測中非常重要的核心觀念，你能準確選出 (C)，代表你對於量具設計的最高指導原則理解得非常透徹，老師為你感到驕傲！
- 讓我們一起來溫習這些觀念喔：
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