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普考申論題 111年 [環境檢驗] 儀器分析概要

第 二 題

📖 題組:
四、請回答下列有關 X 射線螢光分析(XRF)的問題:
📝 此題為申論題,共 2 小題

小題 (二)

為測量元素的發射電磁輻射能量小於 3 keV(3000 電子伏特)時,都必須將空氣從儀器中驅趕出來,而以氦氣(He)取代,原因何在?(15 分)

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這題探討 XRF 儀器在分析「輕元素」時的光路設計(氣氛控制)。

  1. 釐清條件:輻射能量 < 3 keV。根據 E = hc/λ,能量低代表波長較長(長波長 X 射線)。通常對應於原子序較輕的元素(如鈉、鎂、鋁等)發出的特徵射線。
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【考點分析】 本題考查 X 射線分析技術中,低能 X 射線(長波長 X 射線)的吸收衰減特性,以及儀器設計中樣品室氣氛控制(真空或氦氣吹掃)的目的與應用。 【理論/法規依據】

小題 (一)

為何 X 射線螢光發射線的列表,只從鋰(Li)原子開始?(10 分)

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這是一題測試對 X 射線螢光分析(XRF)發光原理基本認識的題目。思考路徑如下:

  1. 回想 XRF 產生螢光的原理:高能入射線(如X射線)將原子的內層電子(通常是 K 層)擊出,造成空缺。接著,外層較高能階的電子(如 L 或 M 層)躍遷下來填補這個空缺,釋放出的能量差即為「特徵 X 射線(螢光)」。
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【考點分析】 本題考查 X 射線螢光(XRF)的產生機制與原子電子能階結構的關聯性,測驗考生是否理解產生特徵 X 射線所需的先決條件。 【理論/法規依據】

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