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高考申論題 111年 [材料工程] 材料分析

第 一 題

📖 題組:
請說明:(每小題 10 分,共 20 分) (一) X 光光電子能譜圖(XPS)可用來解析材料表面之化學價態之原理。 (二) 感應耦合電漿發射光譜圖(ICP-OES)可用來解析微量元素分析之原理。
📝 此題為申論題,共 2 小題

小題 (一)

X 光光電子能譜圖(XPS)可用來解析材料表面之化學價態之原理。

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看到XPS分析化學價態,首要想到的核心物理法則是「光電效應」與能量守恆方程式(Ek = hν - Eb - Φ)。接著,必須點出「化學位移(Chemical Shift)」的概念,詳細解釋原子周圍化學環境(如氧化態、鍵結電負度)改變時,如何影響內層電子的屏蔽效應與束縛能,這是XPS能鑑定表面價態的根本機制。

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【破題】 X光光電子能譜(XPS)是基於「光電效應(Photoelectric Effect)」運作的表面分析技術。其解析化學價態的核心關鍵在於測量特定元素的「束縛能(Binding Energy)」微小變化,即所謂的「化學位移(Chemical Shift)」。 【論述】

小題 (二)

感應耦合電漿發射光譜圖(ICP-OES)可用來解析微量元素分析之原理。

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看到這題,應將 ICP-OES 拆解為『ICP (高溫激發源)』與『OES (發射光譜)』兩部分來論述。先說明高溫電漿如何使樣品原子化並激發外層電子,接著利用物理公式解釋電子躍遷回基態時釋放特徵波長光子的機制,最後點出『波長決定元素種類(定性)、光強度決定濃度(定量)』作為微量分析的結論。

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【破題】 感應耦合電漿發射光譜儀(ICP-OES)是利用高溫電漿作為激發源,使樣品解離成原子或離子並激發其外層電子,藉由偵測電子躍遷回基態時所釋放之特徵發射光譜,以進行微量元素定性與定量分析之技術。 【論述】

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