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地特四等申論題 114年 [化學工程] 工業化學概要

第 一 題

📖 題組:
在半導體製造中,晶圓(silicon wafer)需要經過多道化學程序,如氧化、蝕刻、摻雜與化學氣相沉積(Chemical Vapor Deposition, CVD)等,以形成微米或奈米級電路結構。這些過程高度仰賴精密的化學反應與控制。在一台單片式化學氣相沉積(CVD)反應器中,以 SiH4為前驅物於 700℃、1 Torr 進行多晶矽沉積。假設:SiH4進料流量=100 cm3/min(以標準狀況計,STP)反應器中 SiH4轉化率=20%只考慮在晶圓上沉積(忽略腔體壁面損失)200 mm 晶圓面積 A=314 cm2反應:SiH4 →Si+2H2矽密度 ρSi=2.33 g/cm3,矽摩爾質量 MSi=28.0855 g/mol
📝 此題為申論題,共 2 小題

小題 (一)

求晶圓上沉積速率(以 nm/min 表示)。(13 分)

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這是一道結合反應工程與化學計量的計算題。解題步驟:

  1. 先求出前驅物 SiH4 的進料莫耳速率:利用STP下理想氣體體積(22.4 L/mol = 22400 cm³/mol),計算莫耳流量。
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【考點分析】 考查化學反應工程中的質量守恆、莫耳體積轉換、轉化率計算,以及薄膜沉積速率(厚度成長速率)的計算與單位換算。 【理論/法規依據】

小題 (二)

若欲沉積 300 nm 厚度,需時間多久?(12 分)

思路引導 VIP

本題為接續(一)的簡單計算。有了沉積速率 (nm/min) 以及目標厚度 (nm),只需將目標厚度除以沉積速率,即可得到所需的沉積時間(分鐘)。 時間 = 目標厚度 / 沉積速率

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【考點分析】 考查基礎的速率與時間、距離(厚度)之間關係的運算。 【理論/法規依據】