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高考申論題 108年 [材料工程] 材料分析

第 一 題

📖 題組:
材料的局部電子結構,例如金屬元素的價態,對材料特性極為重要。XAS 為目前常用的電子結構分析方法,(一)請說明經由 XAS 分析可獲得那些材料訊息,並說明 XAS 的分析原理,(20 分)(二)與 EELS 相比,何者能分析的能量範圍較大?(5 分)
📝 此題為申論題,共 2 小題

小題 (一)

請說明經由 XAS 分析可獲得那些材料訊息,並說明 XAS 的分析原理,(20 分)

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本題測驗對於吸收光譜學物理機制的理解。首先應從『X光與物質的交互作用』切入,解釋光電子躍遷及波干涉現象;接著將 XAS 拆解為 XANES 與 EXAFS 兩區段,分別論述其對應的多重/單一散射機制及產出的價態與配位資訊;最後從『非彈性散射截面』的物理限制來比較 EELS 與 XAS 的能量範圍差異。

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【破題】 X 光吸收光譜(XAS)是一種利用同步輻射強光源探測材料局部原子與電子結構的強大技術;相較於電子能量損失光譜(EELS),XAS 具備更寬廣的能量分析範圍與深層能階激發能力。 【論述】

小題 (二)

與 EELS 相比,何者能分析的能量範圍較大?(5 分)

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本題測驗對於光譜技術輻射源與物理限制的理解。作答時應先直接指出 XAS 具備較大的能量分析範圍,接著從 X 射線光源特性(同步輻射)與電子非彈性散射的截面積隨能量衰減(EELS的物理限制)兩方面切入進行比較與解釋。

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【破題】與 EELS(電子能量損失光譜)相比,XAS(X射線吸收光譜)能分析的能量範圍較大。 【論述】 一、XAS 的能量範圍與物理機制

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