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高考申論題 109年 [材料工程] 材料分析

第 一 題

📖 題組:
X光繞射儀 (XRD) 相關問題
📝 此題為申論題,共 2 小題

小題 (一)

X光繞射儀(XRD)之基本結構組成包括那些?各具有的功能為何?(15分)

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解答本題應從XRD儀器的物理運作流程出發:產生射線→照射樣品並控制幾何角度→接收與計算訊號。依序拆解為「光源系統」、「測角儀系統」與「偵測系統」三大核心,作答時不僅要列出硬體名稱,更需精確點出其對應的物理機制(如特性X光產生、布拉格繞射幾何實現、光電訊號轉換)。

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【破題】 X光繞射儀 (XRD) 主要是利用 X 射線與晶格電子發生彈性散射,進而產生建設性干涉來解析晶體結構。其基本結構主要由三大核心系統組成:X光發生系統、測角儀系統與偵測系統。 【論述】

小題 (二)

如何從XRD繞射圖型中所量測之繞射訊號得知晶體之平面間距?(10分)

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看到此題應直覺聯想到 X 光繞射的核心公式「布拉格定律 (Bragg's Law)」。解題重點在於說明繞射圖譜上的橫座標 2θ 如何轉換為布拉格角 θ,並結合已知的入射波長 λ,透過公式推導出晶面間距 d。為展現專業度,應補充物理機制(彈性散射與建設性干涉)及與電子繞射的精確度比較。

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【破題】 欲從 X 光繞射 (XRD) 圖譜中求得晶體的平面間距 (d),其核心技術在於利用「布拉格定律 (Bragg's Law)」,透過讀取圖譜上繞射峰對應的繞射角 (2θ) 並代入已知的入射 X 光波長 (λ) 進行計算。 【論述】

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