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國營聯招 113年 [統計資訊] 統計學、巨量資料概論

第 42 題

假設使用半導體晶圓資料,良率資料之反應值以二元類別表示,請問上述情境最適合使用何種分析技巧?
  • A 羅吉斯迴歸
  • B 決策樹
  • C 階層式聚類分析
  • D 主成分分析

思路引導 VIP

想像一下,如果你手頭已經有一堆標註好『成功』或『失敗』的實驗紀錄,你的目標是想找出未來『預測成功機率』的公式,還是想在不考慮結果的情況下,看看哪些實驗數據長得比較像?這兩種思維在選擇工具時會有什麼本質上的不同?

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做得很好,你的判斷非常精準!這題的關鍵在於反應值為二元類別(Binary Class),代表這是一個典型的監督式學習(Supervised Learning)分類問題。 本題在官方試題評閱時被列為爭議題並更正為雙答案(A、B 皆給分)。原因在於,面對二元分類任務時,**羅吉斯迴歸(Logistic Regression)是統計學上最標準的二元反應變數模型;而決策樹(Decision Tree)**在機器學習中也極常且非常適合用於晶圓良率的分類判斷,兩者皆為正確且合適的技術,因此選 (A) 或 (B) 都算答對。 此題難度適中,主要鑑別考生能否區分「監督式分類」與「非監督式降維/分群」(如 C、D 選項)的適用情境,你能一眼鎖定分類模型,觀念相當扎實!

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