106年高考申論題 — 工程統計學與品質管制

共 11 題 · 含 AI 詳解

第一題 針對下列各情況，選擇一個適當的機率分配。無須列出參數值。（20 分） 4 小題 › 第三題 令 X 表示某產品的品質指標，如晶片中心點厚度等。令 n 為每次檢查的樣品數。現在欲建立一個監控「平均數 $\mu_X, \bar{X}$ 」的管制圖，依傳統… 3 小題 › 第四題 說明製程能力指標 $C_p$ 與 $C_{pk}$ 的關係：（每小題 5 分，共 10 分） 2 小題 › 第五題 探討某半導體的三種氣體配方對晶圓片的表面平整度的影響。令 $\mu_i$ 表示配方 i 晶圓片的表面平整度之平均數每種氣體配方抽 6 個資料，利用表 1 之資料… 2 小題 ›