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醫療類國考 105年 [醫事放射師] 醫學物理學與輻射安全

第 23 題

23.組織內屏蔽塊(internal shielding)用於電子射束放射治療時,下列有關電子回散射(electron backscatter)劑量的敘述何者正確?
  • A 隨電子射線能量增加而遞增
  • B 回散射所在介面的電子能量若小於10 MeV,在軟組織中10%的回散射相對劑量影響範圍約為1 cm
  • C 隨組織內屏蔽塊所用材質之原子序增加而遞減
  • D 使用鉛為屏蔽材料時,若回散射所在介面的電子能量為5 MeV,則介面處的回散射相對劑量約為56%

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請試著想像:當一個帶負電的小粒子(電子)全速衝向一面由「極多正電荷」且「質量巨大」的原子核組成的牆壁時,電子的運動方向與散射機率,會如何受到這面牆的「電荷強度」以及粒子本身「衝擊速度(能量)」的影響?

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  1. 觀念驗證:電子回散射劑量(Electron backscatter)主要受原子序 ($Z$)電子能量 ($E$) 影響。電子撞擊高 $Z$ 物質(如鉛)時,因庫倫力強,回散射隨 $Z$ 增加而遞增,但隨入射能量 $E$ 增加而遞減。在 $5 \text{ MeV}$ 時,鉛介面處的劑量增益確實約為 $50% \sim 60%$,故 (D) 正確。
  2. 難度點評:此題屬於 Medium。除了需理解物理趨勢(反比與正比關係)外,還必須對臨床常用屏蔽材料(鉛)的劑量增益量級有精準印象,是區分考生是否具備臨床實務感的關鍵考題。
📝 電子射束回散射效應
💡 電子束遇高Z屏蔽時產生回散射,使界面劑量隨Z增加、隨能量降低。
比較維度 屏蔽材料原子序 (Z) VS 入射電子能量 (E)
與回散射關係 正相關 (Z 越高回射越多) 負相關 (E 越高回射越少)
物理機制 庫倫斥力增加偏轉機率 動量增加減少偏轉夾角
臨床考量 使用鉛需加低 Z 覆蓋 低能量時更須注意界面劑量
💬回散射劑量受原子序 (Z) 增益而受能量 (E) 抑制,高 Z 低能時界面劑量最危險。
🧠 記憶技巧:原子序高回射多(擋得住),能量越高衝越多(回頭少)
⚠️ 常見陷阱:易誤記為回散射隨能量增加而遞增,實際上是能量越低回散射越強
內部屏蔽 (Internal Shielding) 界面劑量效應 (Interface dose effects) 組織不均勻性校正

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