高考申論題
107年
半導體工程
107年高考申論題 — 半導體工程
共 10 題 · 含 AI 詳解
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第一題
半導體材料矽(Si)及砷化鎵(GaAs):
(一)試分別指出其為何種晶格結構(crystal structure)?(5 分)
(二)請說明兩者之能帶圖結構各為…
2 小題
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第二題
砷化鎵(GaAs)於溫度 T = 300 K 時,其能隙(bandgap) Eg = 1.42 eV、本質載子濃度(intrinsic carrier conc…
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第三題
假設在一半導體中之載子傳輸以漂移(drift)為主要機制:
(一)請說明「載子遷移率(carrier mobility, μ)」之物理意義?(10 分)
(二)…
2 小題
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第四題
假設在矽(Si)半導體中,其電子濃度依位置 x 變化之分布函數可表示為 n(x) = 10^15 e^(-x/Ln) cm^-3 (x >= 0),電子之擴散長…
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第五題
請說明 p-n 接面因外加逆向偏壓、導致接面崩潰(junction breakdown)時,常見之兩種物理機制?(10 分)
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第六題
請分別說明:短通道效應(short-channel effect)及窄通道效應(narrow-channel effect),對於金屬-氧化物-半導體場效電晶體…
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第七題
「基極寬度調變(base width modulation)效應」為雙極性電晶體(bipolar transistor)非理想效應之其一,請說明導致此效應之原因…
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第八題
假設以氟原子(F)進行矽(Si)或二氧化矽(SiO2)的蝕刻時,其蝕刻率可表示為:
蝕刻率(nm/min)= A * nF * T^0.5 * exp(-Ea…
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