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[工業工程] 工程統計學與品質管制 — 主題練習
📚 [工業工程] 工程統計學與品質管制
常見機率分配於品質管制之應用
11
道考古題
2
個年度
108年 (5)
106年 (6)
📝 歷屆考古題
108年 高考申論題
第一題
5000 片晶片不良品個數。
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108年 高考申論題
第二題
圓周率小數點後的數值。
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108年 高考申論題
第三題
每個晶片上的缺點數。
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108年 高考申論題
第四題
樂透每期開獎中獎數字的個數。
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108年 高考申論題
第五題
晶片檢驗線上,檢驗出第二個不良品所需總檢驗數。
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106年 高考申論題
第一題
品管圖上每次檢驗就將相關之統計量填入品管圖之 y 軸上。檢驗出第 1 個落在品管圖上下限外之值所需之總檢驗次數。
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106年 高考申論題
第一題
傳統將此兩張品管圖命名為何?(提示:可能的選擇為(a)p-chart, (b)np-chart, (c)c-chart, (d)u-chart)(10 分)
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106年 高考申論題
第二題
一個晶片之厚度。
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106年 高考申論題
第二題
說明 y 軸的統計量 $\hat{\theta}$ 在 2 張圖中用何種機率分配模型來描述較適當?說明理由。(20 分)
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106年 高考申論題
第三題
10 個晶片中不良的晶片數(每個晶片只分兩種:良片與不良片)。
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106年 高考申論題
第四題
晶片檢驗線上,檢驗出第 2 個不良品所需總檢驗次數。
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