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高考申論題 105年 [電子工程] 半導體工程

第 一 題

📖 題組:
若有一理想 n 型矽半導體與一理想矽 pn 接面二極體,其元件結構如圖 2 所示。(每小題 10 分,共 20 分) ㈠請繪出此兩個元件於照光(光能量>矽能隙寬度)前與後的 I-V 特性曲線。 ㈡比較兩個元件於照光下的 I-V 曲線,說明其不同處及造成兩者差異之原因。
題組圖片
📝 此題為申論題,共 2 小題

小題 (一)

請繪出此兩個元件於照光(光能量>矽能隙寬度)前與後的 I-V 特性曲線。(10 分)

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面對此題,首先區分元件的物理本質:n型半導體為純電阻,無內建電場;pn接面二極體具有空乏區與內建電場。接著帶入光電效應的影響:照光產生電子電洞對,對電阻而言是增加電導率(改變斜率),對pn接面則是產生反向光電流(曲線平移)。

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【解題思路】運用載子傳輸原理與光電效應,分析純電阻元件與具內建電場之 pn 接面元件在產生過剩載子後的電導率與電流成分變化,進而描繪出圖形特徵。 【詳解】 請於考卷上繪製兩張 I-V 曲線圖,並參考以下特徵進行標示:

小題 (二)

比較兩個元件於照光下的 I-V 曲線,說明其不同處及造成兩者差異之原因。(10 分)

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看到比較照光前後的 I-V 曲線,應立刻聯想到「光電導效應(Photoconductive effect)」與「光伏效應(Photovoltaic effect)」。解題關鍵在於指出元件內部「有無內建電場」;內建電場的存在會分離光激發載子,導致 pn 接面產生光電流並使曲線下移,而均勻的 n 型半導體僅因載子濃度增加而降低電阻(改變斜率)。

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【破題】 比較兩元件於照光下 I-V 曲線之核心差異,在於是否產生短路電流與開路電壓,其根本物理原因為元件內部「內建電場(Built-in electric field)」之有無。 【論述】

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