高考申論題
107年
[材料工程] 材料分析
第 一 題
可以利用 X 光繞射光譜（diffraction spectrum）或是電子繞射圖譜（diffraction pattern）來分析晶體的晶格常數（lattice constant），請論述那一個技術可以得到較準確的值？（10 分）
📝 此題為申論題
思路引導 VIP
考生看到此題應立刻聯想到布拉格定律（Bragg's Law）的誤差分析公式，以及 XRD 與 TEM 在輻射源波長（λ）與儀器架構上的根本差異。破題先指出 XRD 較為準確，接著從「高角度繞射的誤差縮小效應（物理原理）」、「透鏡像差與測角儀的差異（儀器架構）」以及「宏觀平均與局部應力（實驗方法）」三個層次進行結構化比較。
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【破題】利用 X 光繞射光譜（XRD）分析晶格常數，可以得到比電子繞射圖譜（ED）遠為準確的數值。 【論述】 一、物理原理與繞射角分佈（高角度外推優勢）
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