高考申論題
107年
[材料工程] 材料分析
第 九 題
能量色散 X 射線光譜儀（EDX）技術是成分分析最常用的技術，請說明所有可能造成誤判訊號峰（peaks）的原因。（10 分）
📝 此題為申論題
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看到此題，應立即從「偵測器物理限制」、「訊號處理機制」與「環境干擾」三個維度切入。回想 EDS 偵測器（如 Si(Li) 或 SDD）與 X-ray 交互作用時產生的『逃逸峰』與『和峰』，接著考慮 EDS 能量解析度（約 130 eV）不足造成的『峰位重疊』，最後補充電子束散射引發的『系統峰』。
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【破題】 能量色散 X 射線光譜儀（EDX/EDS）藉由測量特徵 X 射線的光子能量來進行成分分析。然而，受限於偵測器的物理機制、訊號處理能力及能量解析度極限，常會產生非樣品本質的假峰（Artifact peaks）或訊號混淆，導致成分誤判。 【論述】
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