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高考申論題 109年 [工業工程] 工程統計學與品質管制

第 二 題

📖 題組:
若稽核員以不良品數(np)管制圖來管制單位會計作業之錯誤情況。每次抽取100筆資料為一樣組(假設資料為相同之作業內容),經蒐集足夠資料,求出作業正常時的管制圖中心線為3.0。
📝 此題為申論題,共 2 小題

小題 (二)

假設作業之平均不良率變差至0.10,請問此狀況能被np管制圖偵測到之機率為何?(12分)

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考生看到此題應先確認這是在考管制圖的「檢定力(Power,即 1-β)」。首先利用正常時的中心線求出原始不良率與管制界限(UCL與LCL),接著利用變異後的新不良率建立新的二項分配,並利用常態逼近搭配「連續性修正」計算樣本點落在管制界限外的機率。

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【解題關鍵】利用 np 管制圖公式建立上下管制界限,再計算製程參數改變時,樣本點落於管制界限外之機率(即檢定力 $1 - \beta$),並以常態逼近二項分配搭配連續性修正求解。 【解答】 Step 1:計算正常製程參數及管制界限

小題 (一)

請求出np管制圖的三倍標準差管制界限及此時之型一(α)誤差。(13分)

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看到這題應先聯想離散型管制圖(np管制圖)的統計基礎為二項分配。利用給定的中心線(np)反推不良率 p 來計算變異數與管制界限。計算型一誤差(α)時,務必注意機率變數的離散整數特性,因 np < 5 不宜使用常態逼近,應善用卜瓦松分配(Poisson)來近似二項分配,以簡化考場上的手動計算負擔。

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【解題關鍵】利用 np 管制圖中心線推求不良率 p 並計算管制界限,隨後以離散機率分配(二項分配或卜瓦松近似)計算點子超出管制界限之機率,以求得型一誤差(α)。 【解答】 Step 1:定義機率變數與推導參數

📝 np管制圖偵測力計算
💡 計算製程變異後,樣本點落在原管制界限外之機率(1-β)。

🔗 np管制圖偵測力計算五步驟

  1. 1 計算舊界限 — 利用p0與n求出UCL與LCL
  2. ↓
  3. 2 鎖定整數域 — 界定落在管制界限內的整數範圍k
  4. ↓
  5. 3 代入新參數 — 依變差後的p1算出新的μ與σ
  6. ↓
  7. 4 常態逼近修正 — 計算P(X≤k)時上限須+0.5修正
  8. ↓
  9. 5 求出檢定力 — Power = 1 - β即為所求
🔄 延伸學習:延伸學習:當p1與p0差距越大,β越小,偵測力則隨之越高。
🧠 記憶技巧:偵測力三步口訣:1.定舊界限整數範圍、2.算新分配β機率、3.一減β得偵測力。
⚠️ 常見陷阱:計算β時忘記進行「連續性修正」(±0.5);或是將LCL計算出之負值直接帶入機率計算而非取為0。
p管制圖之偵測力 型I與型II錯誤 操作特性曲線 (OC Curve) 平均檢驗長度 (ARL)

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