第 一 題

1. 先觀察管制圖的七條水平線，確認中心線（CL）及上下各 1σ、2σ、3σ 的界線區域（C區、B區、A區）。
2. 運用連串測試觀察資料點是否連續落在中心線同側或呈單向趨勢；運用區間測試檢查點位是否異常集中於外側標準差區間（如 A 區或 B 區）。

看到這類管制圖判讀題，首先將圖面由中心線向外分為 C、B、A 三區（分別距中心線 1、2、3 個標準差），然後依序檢查非機遇原因的檢定法則（如 Western Electric Rules）。本題明顯在管制圖上方有連續多點偏高，可優先針對「3 點中有 2 點落於 A 區」及「5 點中有 4 點落於 B 區」的區間測試法則進行檢驗。

看到管制圖分析題，先將中心線（CL）上下劃分為 C區（±1σ）、B區（±1σ~±2σ）、A區（±2σ~±3σ）。接著依序套用西方電子（Western Electric）的區間法則（如2/3、4/5、15點法則）與連串法則（同側連續7點或8點、連續6點升降），若皆未違反，即可判定製程穩定。

觀察管制圖時，首先尋找是否有單獨的點落在管制界線（±3σ）之外；接著利用區間測試（Zone Test）檢查 A、B 區是否有異常的點群聚現象；最後以連串測試（Run Test）檢驗是否出現連續多點落在中心線同側，或有明顯的連續上升/下降趨勢。

觀察管制圖中數據點的分佈範圍與管制界線的關係。發現所有的點都異常集中在中心線（CL）附近，未出現正常的隨機波動，需聯想到區間測試中的「C區法則（層別現象）」來進行異常判定。