高考申論題
107年
[材料工程] 材料分析
第 五 題
利用光學顯微鏡（OM）來觀察樣品之晶粒分布實驗中，如何知道總放大倍率？（3 分）在低或是高倍率成像中較容易判斷樣品表面是否有拋光到完全平整？（2 分）請論述其中的機制。（5 分）
📝 此題為申論題
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解題應先從光學顯微鏡的基本光學路徑出發，寫出總放大倍率的乘積關係。接著，針對樣品表面『平整度』的判斷，必須聯想到光學系統的核心物理量——『景深（Depth of Field）』，並利用高倍率物鏡具備大數值孔徑（NA）導致景深極淺的幾何光學機制，來解釋為何高倍率對 Z 軸的高度起伏更為靈敏。
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【破題】 光學顯微鏡的總放大倍率取決於物鏡與目鏡的乘積；而在金相樣品製備中，判斷表面是否達到微觀上的「完全平整」，需依賴「高倍率」成像下極淺的「景深」物理效應來檢驗。 【論述】
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