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高考申論題 111年 [工業工程] 工程統計學與品質管制

第 一 題

📖 題組:
利用平均值(\(\bar{X}\))和 R 管制圖來管制某產品之製程。假設此產品之品質特性符合常態分配,且製程處於穩定狀態,以樣本大小n = 9抽樣求得 \(\bar{\bar{X}}\) = 199.8,\(\bar{R}\) = 2.9。n = 9查表可得以下各係數:A2= 0.337,A3= 1.032,A = 1.000,B3= 0.239,B4= 1.761,D1= 0.547,D2= 5.393,D3 = 0.134,D4 = 1.816,c4 = 0.9693,d2 = 2.970,d3 = 0.808。
📝 此題為申論題,共 3 小題

小題 (一)

請求出平均值(\(\bar{X}\))和 R 管制圖之 3 倍標準差管制界限。(10 分)

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看到本題,任務是計算基本的管制圖界限。首先要辨識出使用的是 $\bar{X}-R$ 管制圖。接著從題目給定資訊中挑選對應的係數:已知樣本大小 n=9,所以要使用查表係數 $A_2, D_3, D_4$。套用公式:$\bar{X}$管制圖的 $UCL/LCL = \bar{\bar{X}} \pm A_2 \bar{R}$,R管制圖的 $UCL = D_4 \bar{R}$、$LCL = D_3 \bar{R}$。計算時小數點保留位數要足夠。

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【考點分析】 本題測驗計量值管制圖($\bar{X}-R$ 管制圖)基本管制界限之計算能力與對品質管制查表係數的辨識。 【理論/公式依據】

小題 (二)

若製程平均數發生變異上移至 200.5,請求出此時平均值(\(\bar{X}\))管制圖可以偵測到此變異之機率。(15 分)

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這題考的是管制圖的「檢定力 (Power)」,也就是偵測變異的機率 ($1-\beta$)。首先要從先前的資料估算製程母體標準差 $\hat{\sigma}$,可由公式 $\hat{\sigma} = \bar{R} / d_2$ 取得。算出母體標準差後,必須計算「樣本平均數的標準差 (標準誤)」,即 $\sigma_{\bar{x}} = \hat{\sigma} / \sqrt{n}$。接著,製程發生偏移,新的平均數變為 $\mu_{new} = 200.5$。我們要求出新的抽樣點落出第一小題算出的管制界限 (UCL與LCL) 之外的機率。計算方法為將原來的 UCL 和 LCL 標準化 (轉為 Z 分數),利用新的分配 $N(200.5, \sigma_{\bar{x}}^2)$ 來求算落在界限內的機率 (即型 II 錯誤 $\beta$),最後用 $1 - \beta$ 即可得到偵測機率。

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【考點分析】 本題測驗管制圖之「型 II 錯誤 ($\beta$)」及「檢定力 (Power = $1-\beta$)」之計算。檢定力即為製程發生偏移時,管制圖能及時偵測出變異的機率。 【理論/公式依據】

小題 (三)

若規格為 200.0 ± 3.0,請求出此變異發生時,該產品製程之 Cp 及 Cpk。(10 分)

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本題測驗「製程能力指標」。首先辨識公式:Cp = 規格全距 / 6個標準差 = (USL - LSL) / 6σ。Cpk = min(Cpu, Cpl) = min((USL - μ) / 3σ, (μ - LSL) / 3σ)。 接著從題目中提取關鍵數值:規格 200.0 ± 3.0 代表上限 USL = 203.0、下限 LSL = 197.0。標準差要使用第(二)小題算出的「母體標準差 $\hat{\sigma} = 0.9764$」(注意:不是用 $\sigma_{\bar{x}}$)。題目特別強調「此變異發生時」,因此計算 Cpk 時的平均數 $\mu$ 必須使用「變異上移後的 200.5」,不能使用原來的 199.8。

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【考點分析】 測驗製程能力指標(Process Capability Indices)$C_p$ 與 $C_{pk}$ 的計算概念。特別是要求考生理解 $C_p$ 僅衡量製程變異寬度,而 $C_{pk}$ 同時衡量製程變異寬度與製程平均數偏移規格中心的程度。 【理論/公式依據】

📜 參考法條

附表:標準常態累加機率值表

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