高考申論題
114年
[電子工程] 半導體工程
第 一 題
📖 題組:
三、在 T = 300 K 下,一個 n 型矽半導體中,施體濃度為 Nd = 10^17 cm^-3,本質載子濃度為 ni = 1.5 * 10^10 cm^-3。若在 t = 0 秒時產生 10^16 cm^-3 的過量載子,請回答下列問題: (一)在 t = 0 秒時,多數載子和少數載子的濃度各為多少?(10 分) (二)請計算 t = 0 秒時準費米能階相對於本質費米能階的能量差,並在能帶圖上標示出來。(10 分)
三、在 T = 300 K 下,一個 n 型矽半導體中,施體濃度為 Nd = 10^17 cm^-3,本質載子濃度為 ni = 1.5 * 10^10 cm^-3。若在 t = 0 秒時產生 10^16 cm^-3 的過量載子,請回答下列問題: (一)在 t = 0 秒時,多數載子和少數載子的濃度各為多少?(10 分) (二)請計算 t = 0 秒時準費米能階相對於本質費米能階的能量差,並在能帶圖上標示出來。(10 分)
📝 此題為申論題,共 2 小題
小題 (一)
在 t = 0 秒時,多數載子和少數載子的濃度各為多少?(10 分)
思路引導 VIP
看到施體濃度先確認為n型半導體,並利用完全游離假設與質量作用定律(Mass action law)求出熱平衡狀態下的載子濃度。接著將熱平衡濃度加上過量載子濃度,即可分別求得注入後的多數與少數載子總濃度。
小題 (二)
請計算 t = 0 秒時準費米能階相對於本質費米能階的能量差,並在能帶圖上標示出來。(10 分)
思路引導 VIP
看到非平衡態的載子濃度,應立即聯想到「準費米能階(Quasi-Fermi level)」的概念。利用 n = n_i * exp((E_{Fn}-E_i)/kT) 與 p = n_i * exp((E_i-E_{Fp})/kT) 的公式,代入第一小題求得的總載子濃度,即可分別求出電子與電洞的準費米能階位置。繪圖時須注意將 E_{Fn} 與 E_{Fp} 分開標示,並精確標出與本質費米能階 E_i 的相對能量差。
非平衡載子與準費米能階
💡 非平衡態下總載子為平衡加過量值,並以準費米能階描述分佈。
| 比較維度 | 熱平衡狀態 (Equilibrium) | VS | 非平衡狀態 (Non-equilibrium) |
|---|---|---|---|
| 載子乘積 | np = ni² | — | np > ni² (有注入時) |
| 費米能階 | 單一費米能階 Ef | — | 分裂為 Efn 與 Efp |
| 外部擾動 | 無光照或外部偏壓 | — | 存在光照、電動勢注入 |
💬準費米能階的分裂程度反映了系統偏離熱平衡的程度。