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高考申論題 114年 [電子工程] 半導體工程

第 一 題

📖 題組:
三、在 T = 300 K 下,一個 n 型矽半導體中,施體濃度為 Nd = 10^17 cm^-3,本質載子濃度為 ni = 1.5 * 10^10 cm^-3。若在 t = 0 秒時產生 10^16 cm^-3 的過量載子,請回答下列問題: (一)在 t = 0 秒時,多數載子和少數載子的濃度各為多少?(10 分) (二)請計算 t = 0 秒時準費米能階相對於本質費米能階的能量差,並在能帶圖上標示出來。(10 分)
📝 此題為申論題,共 2 小題

小題 (一)

在 t = 0 秒時,多數載子和少數載子的濃度各為多少?(10 分)

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看到施體濃度先確認為n型半導體,並利用完全游離假設與質量作用定律(Mass action law)求出熱平衡狀態下的載子濃度。接著將熱平衡濃度加上過量載子濃度,即可分別求得注入後的多數與少數載子總濃度。

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【解題關鍵】利用完全游離假設與質量作用定律($n_0 p_0 = n_i^2$)求出熱平衡濃度,再加上過量載子濃度即可求得總濃度。 【解答】 計算:

小題 (二)

請計算 t = 0 秒時準費米能階相對於本質費米能階的能量差,並在能帶圖上標示出來。(10 分)

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看到非平衡態的載子濃度,應立即聯想到「準費米能階(Quasi-Fermi level)」的概念。利用 n = n_i * exp((E_{Fn}-E_i)/kT) 與 p = n_i * exp((E_i-E_{Fp})/kT) 的公式,代入第一小題求得的總載子濃度,即可分別求出電子與電洞的準費米能階位置。繪圖時須注意將 E_{Fn} 與 E_{Fp} 分開標示,並精確標出與本質費米能階 E_i 的相對能量差。

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【解題思路】利用非平衡態下的載子濃度公式計算電子與電洞的準費米能階(Quasi-Fermi level),並依據計算結果繪製能帶圖。 【詳解】 已知:溫度 T = 300 K,熱能 kT $\approx 0.0259 eV$,本質載子濃度 n_i = 1.5 $\times 10^{10} cm^{-3}$。

📝 非平衡載子與準費米能階
💡 非平衡態下總載子為平衡加過量值,並以準費米能階描述分佈。
比較維度 熱平衡狀態 (Equilibrium) VS 非平衡狀態 (Non-equilibrium)
載子乘積 np = ni² np > ni² (有注入時)
費米能階 單一費米能階 Ef 分裂為 Efn 與 Efp
外部擾動 無光照或外部偏壓 存在光照、電動勢注入
💬準費米能階的分裂程度反映了系統偏離熱平衡的程度。
🧠 記憶技巧:「先算平衡值,再加上注入;費米變兩個,對數算能階。」
⚠️ 常見陷阱:在注入狀態下仍錯誤套用 np = ni² 計算總濃度,或計算少數載子時忽略平衡初值。
過量載子復合 少數載子壽命 連續方程式

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